| 发明名称 |
High speed testing of field-effect transistors |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0541240(B1) |
申请公布日期 |
1997.03.05 |
| 申请号 |
EP19920309058 |
申请日期 |
1992.10.05 |
| 申请人 |
ADVANCED MICRO DEVICES, INC. |
发明人 |
BOWLES, JAMES E. |
| 分类号 |
G11C29/50;G01R31/26;G01R31/27;H01L21/66;H01L21/822;H01L21/8244;H01L27/04;H01L27/11;(IPC1-7):G01R31/26;G11C29/00 |
主分类号 |
G11C29/50 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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