| 主权项 |
1. 一种光学滤光装置,其中包括至少二光学滤光元件,该等光学滤光元件构成第一区域及环绕第一区域的第二区域,第一区域具有和第二区域大致相同的光学透射特性,然而至少在一部份的可见光谱上具有和第二区域不同的光学反射特性;当观者自该光学滤光装置的一面看时,第一区域和第二区域的区别系可见的,当观者自该滤光装置的另一面看时,则无法看出其区别。2. 如申请专利范围第1项之光学滤光装置,其中该滤光装置的一侧系图样侧,该滤光装置的另一侧系非图样侧,当观者经由反射光自该滤光装置的非图样侧看时,亦大致无法看出第一区域和第二区域的区别。3. 如申请专利范围第1项之光学滤光装置,其中该等光学滤光元件系包括透明底板与至少一层以预定的图样供至该底板的光学涂层。4. 如申请专利范围第3项之光学滤光装置,其中该光学涂层系包括多数层重叠的光学薄膜。5. 如申请专利范围第4项之光学滤光装置,其中该等光学薄膜包括至少一层金属薄膜。6. 如申请专利范围第4项之光学滤光装置,其中该等光学薄膜包括至少一层电介质薄膜。7. 如申请专利范围第4项之光学滤光装置,其中该等光学薄膜包括至少一层含有金属一电介质混合物的混合薄膜。8. 如申请专利范围第5项之光学滤光装置,其中该滤光装置包括下层金属薄膜与上层电介质薄膜,该金属薄膜的厚度决定该滤光装置的透射系数,该电介质薄膜的厚度决定第一或第二区域的反射的色彩。9. 如申请专利范围第8项之光学滤光装置,其中该滤光装置包括至少一层介于金属薄膜和底板之间的下层电介质薄膜,系用于减少反射。10. 如申请专利范围第6项之光学滤光装置,其中该等光学薄膜包括一叠电介质薄膜,该等层叠的电介质薄膜各具有不同的折射率。11. 如申请专利范围第3项之光学滤光装置,其中该透明底板结合整合之滤光结构,俾用以在光谱范围内减少透射不均衡,而达到透射色彩均衡。12. 一种光学滤光装置的制造方法,包括以下过程:提供光学底板;选择光学涂层并供至底板的一面;在涂层上构成预定的图样俾界定第一及第二区域;其中第一区域具有和第二区域大致相同的光学透射特性,但至少在一部份的可见光谱中具有和第二区域不同的光学反射特性,使得自该滤光装置的一侧看时,第一区域及第二区域的区别系可看出的,而自该滤光装置的另一侧看时,则无法看出其区别。13. 如申请专利范围第12项之制造方法,其中该光学涂层与底板系经过选择,使得自该光学滤光装置的反侧经由反射光看时,第一及第二区域的背面反射系大致相同的。14. 如申请专利范围第12项之制造方法,其中该光学涂层包含至少二重叠的光学薄膜层,制造该光学涂层的过程包括,提供该等薄膜层至底板上,使用构成图样的遮盖物遮盖在至少一薄膜层上,然后移除该遮盖物。15. 如申请专利范围第14项之制造方法,其中该等光学薄膜层可选用电介质薄膜、金属薄膜以及金属一电介质薄膜。16. 如申请专利范围第14项之制造方法,该方法包括监控该等光学薄膜层之厚度的过程,俾达到所需的光学透射特性与反射特性。17. 如申请专利范围第14项之方法,该方法的制程包括,提供参考光源,透射光感测器及反射光感测器,设置监控板于光源和透射光感测器之间,经由连续的淀积过程淀积至少一层光学薄膜至该监控板上,于淀积过程中测量透射光与反射光,直至达到所需的光学透射特性与反射特性,然后停止该淀积过程。18. 如申请专利范围第17项之制造方法,该方法包括提供至少一底板至该监控板的范围内,使底板接受与监控板相同的淀积过程。19. 如申请专利范围第12项之制造方法,该方法包括检测透射色彩不均衡的光谱范围,并提供滤光结构至该底板俾减少在光谱范围内的透射色彩不均衡。20. 如申请专利范围第12项之制造方法,其中提供该等薄膜层的方法包括蒸汽淀积法、光刻法、浸渍法、喷雾法或喷镀法。图示简单说明:第1A、1B与1C图:分别图示习知的透明底板上之不透明图样的前视、后视及侧视图;第2A、2B与2C图:分别图示本发明之滤光装置的前视、后视及侧视图;第3A图:显示构成本发明之滤光装置之实施例的一叠多层电介质薄膜之截面侧视图;第3B图:显示构成本发明之滤光装置之另一实施例的一叠多层金属薄膜与电介质薄膜;第3C至3F图;显示本发明之又一实施例之双层金属薄膜与电介质薄膜叠的各阶段制造过程;第4图:显示红光反射电介质薄膜叠的透射及反射曲线图;第5图:显示使用彩色滤光玻璃为底板的透射比对曲线图;第6图:显示无色、青铜色、紫色与蓝色连字的反射系数曲线图;第7图:显示无色、青铜色、紫色与蓝色连字的透视系数曲线图;第8图:显示彩色连字的逆反射系数曲线图;第9图:显示具备防反射层的彩色连字之逆反射系数曲线图;第10图:显示使用大致对称光学滤光装置的嵌入图样设计之透射系数与反射系数曲线图;第11图:显示青铜色、紫色与蓝色滤光器的非标准化之透射系数値曲线图;以及 |
