IC测试系统的自动输送装置和测盘定位机构及其输送方法

摘要

一种可以减少待测IC器件传送时间的IC测试系统中自动输送装置，该装置将IC器件由供应区传送至测试头区，再送至排出区。通过制动器的独特设置及于测盘上开凹槽的方法，在不提高输送速度的情况下，可减少IC器件的平均换位时间。

主权项

1、一种用于IC测试系统的自动输送装置，该装置通过将IC器件从供应区输送到具有多组测针头的测试头区及将IC器件从测试头区输送排出区来测试IC器件，其包括：一用于载负所述待测IC器件的测盘，所述待测IC器件相互之间以某一间距对齐摆放在所述测盘中，而该间距比在所述测试头区内所述测针头组间距短；一对定位制动器沿所述测盘的移动方向上设置在所述测试头区，所述定位制动器，以与所述测盘内所述待测IC器件间距相等的距离来隔开；在这里所述测针头组的间距被调整成所述测盘中所述待测IC器件间距的整倍数，所述位置制动器之一触及所述测盘来确定第一位置，该位置用于测试所述测盘中第一行所述IC器件，然后，所述测盘被输送到直到另一位置制动器触及所述测盘为止的第二位置，此位置用于测试所述测盘中的第二行所述IC器件，在所述测试后，所述的测盘被输送到所述排出区。