| 发明名称 |
QUANTITATIVE MEASURING METHOD FOR PLATING COMPOSITION |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH0943232(A) |
申请公布日期 |
1997.02.14 |
| 申请号 |
JP19950209990 |
申请日期 |
1995.07.26 |
| 申请人 |
FUJIKURA LTD |
发明人 |
TANAKA KATSUMARO;MAEDA TAKASHI |
| 分类号 |
G01N31/00;G01N33/20;(IPC1-7):G01N33/20 |
主分类号 |
G01N31/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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