发明名称 DEFECT DISTRIBUTION SIMULATION METHOD
摘要
申请公布号 JPH0945630(A) 申请公布日期 1997.02.14
申请号 JP19950192754 申请日期 1995.07.28
申请人 NEC CORP 发明人 SAWAHATA KOICHI
分类号 H01L21/22;G06F17/50;H01L21/00;H01L21/265;(IPC1-7):H01L21/265 主分类号 H01L21/22
代理机构 代理人
主权项
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