Test mode setting arrangement for use in microcomputer,申请号EP19910120392-传众专利搜索

发明名称	Test mode setting arrangement for use in microcomputer
摘要
申请公布号	EP0488281(B1)	申请公布日期	1997.02.12
申请号	EP19910120392	申请日期	1991.11.28
申请人	NEC CORPORATION	发明人	NAGAISHI, HATSUHIRO
分类号	G06F11/22;G01R31/317;G06F15/78;(IPC1-7):G06F11/26	主分类号	G06F11/22
代理机构		代理人
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