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发明名称 SEMICONDUCTOR DEVICES AND INTEGRAL CIRCUIT PLATES TESTING METHOD
摘要
申请公布号 RU2073254(C1) 申请公布日期 1997.02.10
申请号 RU19930033315 申请日期 1993.06.25
申请人 MOSKOVSKIJ INZHENERNO-FIZICHESKIJ INSTITUT 发明人 POPOV VIKTOR D;KURIN FELIKS M;ONOPKO DMITRIJ I;KATERINICH IGOR I;OSPISHCHEV DMITRIJ A
分类号 G01R31/26;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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