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经营范围
发明名称
IC TESTING DEVICE
摘要
申请公布号
JPH0933610(A)
申请公布日期
1997.02.07
申请号
JP19950179024
申请日期
1995.07.14
申请人
ADVANTEST CORP
发明人
MIURA TAKEO
分类号
G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28
主分类号
G01R31/28
代理机构
代理人
主权项
地址
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