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<P>Un appareil pour tester un dispositif en cours de test (DUT) à circuits intégrés à signaux mélangés est proposé. Plusieurs voies analogiques ont chacune un processeur de signaux numériques (DSP) source, un séquenceur de sources numériques, un appareillage de sources numériques, un appareillage de sources analogiques un appareillage de mesures analogiques, un appareillage de mesures numériques, un multiplexeur des broches numériques, un séquenceur de mesures numériques, une mémoire de saisie à plusieurs banques adressable par DSP, un processeur des signaux numériques de saisie, et un passage de contre-réaction entre le DSP source et le DSP de saisie. Chaque voie analogique peut être agencée en une boucle à contre-réaction passant par son appareillage analogique et/ou par son appareillage numérique en utilisant le passage de contre-réaction entre-DSP. La réponse du DUT sert à définir les paramètres du cycle de test ultérieur, et un signal correspondant à ces paramètres est généré et appliqué au DUT, accélérant la procédure de test.</P>
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