| 摘要 |
Die integrierte Schaltung IC weist eine Schaltungsanordnung S auf, der ein Testsignal TEST zuführbar ist, das ein Ausgangssignal SOUT zur Folge hat, dessen Pegel oder dessen Verzögerung gegenüber dem Testsignal TEST innerhalb eines festlegbaren Toleranzbereiches liegen soll. Zur entsprechenden Überprüfung ist eine Prüfanordnung P vorgesehen. Auf diese Weise kann festgestellt werden, ob Fertigungseinflüsse eine Funktion der Schaltungsanordnung S negativ beeinflussen. Die Schaltungsanordnung S ist stellvertretend für gleichartige Schaltungsanordnungen derselben integrierten Schaltung IC testbar. Sie kann lediglich eine Schaltungskomponente aufweisen, beispielsweise einen Widerstand R, einen Kondensator, eine Spule usw. Sofern die Schaltungsanordnung S mit keiner sonstigen Schaltungskomponente verbunden ist, wird während ihrer Überprüfung die sonstige Funktion der integrierten Schaltung S nicht beeinflußt. Die Überprüfung kann dann durchgeführt werden, ohne daß ein spezieller Testbetriebsmodus notwendig ist. Insbesondere bei Überprüfung auf Waferebene kann ohne zusätzlichen Aufwand an Testzeit und Testapparaturen jede integrierte Schaltung IC separat überprüft werden. <IMAGE>
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