发明名称 SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE WITH TESTING-CONTROLLING CIRCUIT PROVIDED IN INPUT/OUTPUT REGION
摘要
申请公布号 KR970001358(B1) 申请公布日期 1997.02.05
申请号 KR19920071195 申请日期 1992.05.20
申请人 FUJITSU KK. 发明人 YAMAMURA, TAKESHI
分类号 G01R31/3185;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/3185
代理机构 代理人
主权项
地址