Regeleinrichtung für Halbleiterlaser zur Bestimmung der Lebensdauer der Halbleiterlaser durch Feststellung des im Halbleiterlaser, beginnend vom Anfangszustand, erfolgenden Stromanstiegs,申请号DE19926013811T-传众专利搜索

发明名称	Regeleinrichtung für Halbleiterlaser zur Bestimmung der Lebensdauer der Halbleiterlaser durch Feststellung des im Halbleiterlaser, beginnend vom Anfangszustand, erfolgenden Stromanstiegs
摘要
申请公布号	DE69213811(T2)	申请公布日期	1997.01.30
申请号	DE19926013811T	申请日期	1992.05.07
申请人	FUJITSU LTD., KAWASAKI, KANAGAWA, JP	发明人	SATO, SHINICHI, C/O FUJITSU LIMITED, KAWASAKI-SHI, KANAGAWA, 211, JP;KATOH, HIROAKI, C/O FUJITSU LIMITED, KAWASAKI-SHI, KANAGAWA, 211, JP
分类号	G06K7/10;H01S5/00;H01S5/042;H01S5/06;H01S5/068;H01S5/0683;H05B33/08;H05B37/03;(IPC1-7):H01S3/133	主分类号	G06K7/10
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