发明名称 | 同轴光电测距仪 | ||
摘要 | 一种同轴光电测距仪,在光发送侧,有位于物镜(1)后面的光学部件,使来自光发射部件(52)的光束被在物镜(1)的光轴(C)附近放置的第一反射面反射。在光接收侧的光学部件被装配成使来自反射对象(R)的接收光(Pb)被位于第一反射面后面的第二反射面反射至位于光轴(C)侧面的光接收部件(61)。利有一个开口的光圈板(54),使得从光发射部件(52)发出的光通过光圈板(54),从而使发送光(Pa)光束横截面为非点对称形状。 | ||
申请公布号 | CN1140833A | 申请公布日期 | 1997.01.22 |
申请号 | CN96108139.2 | 申请日期 | 1996.06.10 |
申请人 | 株式会社索佳 | 发明人 | 阿部满孝 |
分类号 | G01C3/00 | 主分类号 | G01C3/00 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 杜日新 |
主权项 | 1.一种同轴光电测距仪,包括: 在光发送侧的光学器件,其中来自光发送部件(52)的光由 第一反射面(5a)反射,该第一反射面(5a)位于物镜(1)和 聚焦透镜(3)之间并且邻近所述物镜(1)的光轴(C),从而 把发送光(Pa)射到位于所述物镜(1)前方的反射部件(R) 上; 在光接收侧的光学器件,其中由所述反射部件(R)反射的 接收光(Pb)被第二反射面(6a)反射,该第二反射面(6a)放 在所述第一反射面(5a)之后并且位于分光镜(7)和光接收部 件(61)之间的光路上; 其中所述第一反射面(5a)被这样放置,使所述光轴(C) 位于所述发送光(Pa)的光通量中;并且 其中所述在光发送侧的光学器件进一步包括变换器件,用于 把所述发送光(Pa)的所述光通量的截面交换成非点对称形状。 | ||
地址 | 日本东京都 |