| 发明名称 |
TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TEST METHOD |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH0915301(A) |
申请公布日期 |
1997.01.17 |
| 申请号 |
JP19950164352 |
申请日期 |
1995.06.29 |
| 申请人 |
NEC IC MICROCOMPUT SYST LTD |
发明人 |
KOYANAGI MITSUHIRO |
| 分类号 |
G01R31/28;G11C29/00;G11C29/56;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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