| 发明名称 |
RELIABILITY TEST METHOD FOR CIRCUIT FUNCTION BLOCK |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
JPH095404(A) |
申请公布日期 |
1997.01.10 |
| 申请号 |
JP19950151585 |
申请日期 |
1995.06.19 |
| 申请人 |
MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD |
发明人 |
SADAMATSU HIDEAKI |
| 分类号 |
G01R31/26;G01R31/00;G01R31/28;G01R31/30;(IPC1-7):G01R31/30 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
