FLATNESS MEASURING DEVICE,申请号JP19950153421-传众专利搜索

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发明名称	FLATNESS MEASURING DEVICE
摘要
申请公布号	JPH095059(A)	申请公布日期	1997.01.10
申请号	JP19950153421	申请日期	1995.06.20
申请人	NIKON CORP	发明人	SHIOZAWA HISASHI
分类号	G01B11/30;(IPC1-7):G01B11/30	主分类号	G01B11/30
代理机构		代理人
主权项
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