发明名称 INSPECTION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND GRINDING EQUIPMENT OF SEMICONDUCTOR DEVICE SUBSTRATE
摘要
申请公布号 JPH098087(A) 申请公布日期 1997.01.10
申请号 JP19950157655 申请日期 1995.06.23
申请人 FUJITSU LTD 发明人 SHIMIZUHATA OSAMU
分类号 G01N21/88;G01N21/956;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 G01N21/88
代理机构 代理人
主权项
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