发明名称 RELIEF ADDRESS ANALYSIS FOR TESTING OF SEMICONDUCTOR
摘要
申请公布号 JPH097388(A) 申请公布日期 1997.01.10
申请号 JP19950175535 申请日期 1995.06.19
申请人 ADVANTEST CORP 发明人 SUZUKI RIICHI
分类号 G01R31/28;G11C29/00;G11C29/04;G11C29/44;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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