| 发明名称 |
High speed in-circuit and functional testing of electronic circuits |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
GB2279759(B) |
申请公布日期 |
1997.01.08 |
| 申请号 |
GB19930012748 |
申请日期 |
1993.06.21 |
| 申请人 |
* EI TECHNOLOGY LIMITED |
发明人 |
PETER * DOYLE;MICHAEL * GUINEE;MICHAEL * BYRNE;JAMES * DUIGNAN |
| 分类号 |
G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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