A Circuit Arrangement for Testing One or More Selected Relays in a Switching Matrix.,申请号GB19670016142-传众专利搜索

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发明名称	A Circuit Arrangement for Testing One or More Selected Relays in a Switching Matrix.
摘要
申请公布号	GB1176014(A)	申请公布日期	1970.01.01
申请号	GB19670016142	申请日期	1967.04.07
申请人	BOLKOW GESELLSCHAFT MIT BESCHRANKTER HAFTUNG	发明人
分类号	H04Q1/24	主分类号	H04Q1/24
代理机构		代理人
主权项
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