| 主权项 |
1. 一种具有头面之扫描头,扫描头包含通量导向元件以及磁光元件,其特征为磁光元件置于在通量导向元件之间延伸之间隙平面内。2. 根据申请专利范围第1项之扫描头,其特征为至少有一通量导向元件之一部份,该部份所在位置与磁光元件对置,为光学透明性。3. 根据申请专利范围第1或2项之扫描头,其特征为磁光元件与通量导向元件紧密接触。4. 根据申请专利范围第1或2项之扫描头,其特征为两通量导向元件和磁光元件与头面邻接。5. 根据申请专利范围第1或2项之扫描头,其特征为两通量导向元件与头面邻接以及磁光元件所在位置与头面保持一段距离。6. 根据申请专利范围第5项之扫描头,其特征为通量导向元件之一部份与头面邻接,该部份横跨头面和所在位置与头面保持一段距离之磁光元件之间距,其形状偏离其它邻接头面之通量导向元件而凸出。7. 根据申请专利范围第5项之扫描头,其特征为邻接头面之两通量导向元件仅于接近所在位置与头面保持一段距离之磁光元件处重叠。8. 根据申请专利范围第1或2项之扫描头,其特征为邻接头面之两通量导向元件,一方面,间隙平面在邻接头面之通量导向元件之间延伸;另一方面,所在位置与头面保持一段距离之通量导向元件,以及与在邻接头面之通量导向元件之间延伸之间隙对置之磁光元件。9. 根据申请专利范围第1或2项之扫描头,其特征为绕线在两通量导向元件之间延伸。10. 一种扫描装置,包含根据前述申请专利范围任一项之扫描头,以及又包含一光源,一光径,用以导引光源产生之偏极化光束到磁光元件,以及一侦测器,用以测量光束经磁光元件反射后之变化。图示简单说明:图1显示根据本发明之扫描头之第一具体实施例,图2显示第二具体实施例,图3显示第三具体实施例,图4显示第四具体实施例,图5A显示第五具体实施例,图5B显示第五具体实施例取自线Ⅴ-Ⅴ之侧视图,图6显示第六具体实施例,图7显示第七具体实施例,以及 |
