| 主权项 |
1. 一种型钢之剖面尺寸测量方法,为要在轧辊途中之中间制品测量型钢之剖面尺寸,系于型钢之上下方向成相对地配置二部雷射测距仪,并使该等测距仪同时穿越型钢之搬运线,且于水平方向一面作前进后退往复移动,一面作测量型钢之剖面尺寸,其特征系备有:当测距仪前进行走时,自雷射测距仪以所定之角度照射光线,用以测量自该雷射测距仪之位置到型钢之距离与照射角度之步阶,与;当测距仪后退行走时,将上述雷射光之照射角度加以改变,用以测量自该等雷射测距仪之位置到型钢之距离与其照射角度之步阶,与;自该等测量资讯中选定处在型钢之同一部位之测量资讯,使该等测量资讯达成一致后,才把型钢剖面之空间座标输出之步阶,及;自该空间座标运算形状资讯之步阶。2. 如申请专利范围第1项之型钢之剖面尺寸测量方法,系附加有:在轧辊途中之中间制品之型钢之侧方,配置有剖面尺寸已知之校正片,一面令上述雷射测距仪在水平方向作前进后退往复运动,一面与型钢相同地测量到校正片之距离之步阶,与;自该等之测量资讯求出前进后退往复移动时之空间座标间之偏差之步阶,及;利用该空间座标之偏差来补正该型钢之空间座标之步阶。3. 如申请专利范围第1项或第2项之型钢之剖面尺寸测量方法,其中之型钢系为H型钢。4. 一种型钢之剖面尺寸测量装置,系备有;设置,要将型钢之搬运线加以包围之门型状之架台,并将通过该架台内,呈倾动自如地安装在型钢之上侧,用以测量到型钢之距离之上部雷射测距仪,与;用以检测自该上部雷射测距仪之雷射光照射角度之上部雷射光照射角度检测手段,与;用以收容该上部雷射测距仪及上部雷射光照射角度检测手段,并于水平方向呈移动自如之上部雷射测距仪移动手段,与;用以检测该上部雷射测距仪之移动位置之上部雷射测距仪位置检测手段,与;安设于型钢之下侧,对上述之上部雷射测距仪成相对,并呈倾动自如用以测量到型钢之距离之下部雷射测距仪,与;用以检测自该下部测距仪发出之雷射光照射角度之下部雷射光照射角度检测手段,与;用以收容该下部雷射测距仪及下部雷射光照射角度检测手段,并在水平方向呈移动自如之下部雷射测距仪移动手段,与;用以检测该下部雷射测距仪之移动位置之下部雷射测距仪位置检测手段,与;当该上部雷射测距仪移动手段及下部雷射测距仪移动手段在行走时,将该上部雷射测距仪之位置、距离及照射角度之测量値与该下部雷射测距仪之位置、距离及照射角度之测量値都各施予相位准,而自所得型钢之空间座标求出型钢之剖面面形状轮廓,并自该剖面形状轮廓来运算型钢之剖面尺寸之剖面形状运算装置。图示简单说明:第1图系为本发明之第1实施例之方块图。第2图系为三角测量方式雷射测距仪之测量原理说明图。第3图系为表示受光能量强度分布与位置检测关系之说明图。第4图(a)-(d)系为本发明之作用之说明图。第5图(a)-(d)系为在各空间座标所得之轮廓之说明图。第6图系为求出各部剖面尺寸方法之说明图。第7图系为本发明之第2实施例之方块图。第8图系为用于本发明之校正片之立体图。第9图系为校正片面之测量座标之说明图。第10图(a)、(b)系为用以表示校正片之测量轮廓之偏差之特性图。第11图(a)、(b)、(c)、(d)系可在各步阶得到之剖面形状轮廓之说明图。第12图系为用以表示本发明之实施例之H型钢之制造线之配置图。第13图系为用以表示H型钢中间制品之剖面形状之剖面图 |
