发明名称 高速热处理装置(一)
摘要 本发明系关于高速热处理装置。主要将复数之基板快速且平均地进行热处理之高速热处理装置﹐其特征为﹐在处理管内藉由复数之加热手段对暂用基板进行模拟地加热﹐藉由温度检测手段分别预先检测把握住在处理管内之各区域之暂用基板到达目标温度为止之基板昇温图案﹐及加热手段之发热部到达目标温度为止之加热器昇温图案﹐及处理管之气体到达目标温度为止之内部气体昇温图案﹔将要被处理之基板排列收容于处理管内﹔将基板加热时﹐藉由上述温度检测手段﹐分别检测出处理管内之各区域之温度及加热手段之发热部的温度﹔在各区域之基板温度到达目标温度而安定为止之间﹐依据上述各检测温度及上述基板昇温图案及加热器昇温图案及内部气体昇温图案﹐藉由控制手段控制上述各加热手段﹐迅速且平均地使基板昇温者。
申请公布号 TW294825 申请公布日期 1997.01.01
申请号 TW084107432 申请日期 1994.08.17
申请人 东京电子东北股份有限公司;东京电子股份有限公司 发明人 大加濑榃;山贺健一;寺田和雄;西胜夫
分类号 H01L21/02 主分类号 H01L21/02
代理机构 代理人 林志刚 台北巿南京东路二段一二五号七楼;林敏生 台北巿南京东路二段一二五号七楼伟成第一大楼
主权项 1. 一种高速热处理装置,其特征为,具有,拥有外壁及内壁,而至少有一开口,可装入复数片基板之纵型处理管;及配置于上述纵型处理管周围之断热材;及在上述断热材及上述纵型处理管间所设之单位面积(cm@su2)之容许电力为10W/cm@su2以上,而对上述处理管加热之电阻发热体;及经由上述开口,将承载体上的被数片之基板搬入/搬出于纵型处理管内之昇降机构;及在上述纵型处理管之外壁及内壁之相互间所形成有间隙,将气体供给至此间隙之气体供给手段。2. 如申请专利范围第1项所述之装置,其中,供给之气体,系使用可与金属离子反应之卤系气体,氧气,空气。3. 如申请专利范围第1项所述之装置,其中,供给之气体,系使用氮气体,氩气体之非反应性气体。4. 如申请专利范围第1项所述之装置,其中,供给之气体,系至少发热电阻体之温度在予先所决定之温度以上时,将气体供给者。5. 如申请专利范围第1项所述之装置,其中,上述承载体更具有,与基板周缘部相接触,而将基板加以支持之环状盘;及在上述环状盘之基板支持部处,沿着此基板之周缘部设有与基板上面相等或比此上面为高之侧壁。图示简单说明:图1系表示说明习知之温度控制方法之温度图。图2系表示本发明之第1实施例之高速热处理炉之断面方块图。图3系说明实施例之温度控制方法之温度图。图4系表示本发明之第2实施例之高速热处理炉之剖面方块图。图5系表示在急速加热时加热器之温度T@ssH,处理室之内部温度T@ss1及晶圆温度T@ssw之实测结果之图。图6系表示急速加热时加热器之温度T@ssH,处理室之内部温度T@ss1及晶圆之温度T@ssw之实测结果之图。图7系表示本发明之第3实施例之高速热处理炉之剖面图。图8系表示第3实施例之高速热处理炉之处理管之剖面图。图9系表示将外部切开之加热单元之斜视图。图10系表示加热单元之装置部之部份剖面图。图11系表示载置于环盘上之晶圆之部份剖面图。图12系表示说明环盘上的晶圆被射入辐射热之部份断面图。图13系表示环盘上之晶圆及非环盘上之晶圆的温度分布之温度特性图。图14A系表示本发明之实施例之热处理装置之纵剖面图。图14B系表示热处理装置内部之长方向的温度分布之特性图。图15系表示扩大热处理装置之下部之部份剖面图。图16系表示本发明之实施例之热处理装置之剖面图。图17系表示本发明之实施例之热处理装置剖面方块图。图18系表示扩大热处理装置的下部之部份剖面图。图19系表示本发明之实施例之热处理装置部份剖面图。图20系表示热处理装置之冷却系统之冷却电路图。
地址 日本