Fassung zum Testen von integrierten Schaltkreisen,申请号DE19946000884-传众专利搜索

发明名称	Fassung zum Testen von integrierten Schaltkreisen
摘要
申请公布号	DE69400884(D1)	申请公布日期	1996.12.19
申请号	DE19946000884	申请日期	1994.02.22
申请人	TEXAS INSTRUMENTS INC., DALLAS, TEX., US	发明人	MORI, IKUO, TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATE, DALLAS, TEXAS 75265, US;IKEYA, KIYOKAZU, TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED, DALLAS, TEXAS 75265, US
分类号	G01R31/26;G01R1/04;H01L21/66;H01L23/32;H01R33/76;H05K7/10;(IPC1-7):H05K7/10	主分类号	G01R31/26
代理机构		代理人
主权项
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