METODO Y APARATO PARA EFECTUAR MEDICIONES DE RESISTENCIA EN UN ELEMENTO SEMICONDUCTOR.

摘要

UN METODO PARA MEDIR LA RESISTENCIA O CONDUCTIVIDAD ENTRE DOS O MAS CONDUCTORES QUE SE COLOCAN FRENTE A UN ELEMENTO SEMICONDUCTOR, DONDE PARA LLEVAR LA RESISTENCIA DE CONTACTO ENTRE LOS CONDUCTORES Y EL ELEMENTO HACIA UN VALOR PREDETERMINADO Y MANTENERLA DURANTE LA MEDIDA, LOS CONDUCTORES SE MANTIENEN A UNA DISTANCIA CONSTANTE Y/O BAJO PRESION CONSTANTE EN RELACION AL ELEMENTO SEMICONDUCTOR.