发明名称 | 半导体器件和鉴别好坏半导体器件的方法 | ||
摘要 | 本发明在半导体器件的IC单元的输入-输出端单元上提供了一个运行检查电路单元,并且设有一个热敏树脂层作为顶层。用作发热元件的晶体管被用于运行检查电路单元中IC单元的各个输入-输出端。如果作为运行检查的结果而探测到反常现象,一个大电流流过连接于有问题的输入-输出端的晶体管,引起热耗散。此热量反过来又改变顶部热敏树脂层上对应区域的颜色。借助于由目测识别颜色的改变,可鉴别好坏半导体器件。 | ||
申请公布号 | CN1137639A | 申请公布日期 | 1996.12.11 |
申请号 | CN96100683.8 | 申请日期 | 1996.01.24 |
申请人 | 索尼株式会社 | 发明人 | 井手和宪 |
分类号 | G01R31/28 | 主分类号 | G01R31/28 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 范本国 |
主权项 | 1.一种半导体器件,包括:一个具有固有电路功能的半导体集成电路单元;一个用来检查上述半导体集成电路单元的运行的运行检查电路单元,上述的运行检查电路单元设置在上述半导体集成电路单元的输入—输出端单元上;以及一个制作在上述运行检查电路单元周边上的热敏层,其中上述热敏层的颜色由上述运行检查电路单元产生的热量改变。 | ||
地址 | 日本东京 |