发明名称 非挥发性半导体记忆体元件
摘要 对于具有提供高于场效电晶体抵抗电压的写入电源电压的一非挥发性半导体记忆元件,本发明的目的是陂低组成此非挥发性半导体记忆元件的多种场效电晶体数量并藉以降低其制造成本。非挥发性半导体记忆元件内包括一写入电路125,是为了控制写入负载与一条位元线间的连接,根据一资料写入线114的讯号,与一偏压电路118藉由降低写入电源电压而输出偏压以设定一记忆单元阵列的单元写入电压,此位元线由行解码器117的输出所指定,此半导体元件包括一N型电晶体102在闸极接收偏压电路118的输出,且输出单元写入电压到一单元写入电压线105,以及由P型电晶体104(互补型之一)与N型电晶体102所构成的可写入负载,此P型电晶体连接在单元写入电压线105与记忆单元阵列的位元线之间。
申请公布号 TW292390 申请公布日期 1996.12.01
申请号 TW085104729 申请日期 1996.04.20
申请人 电气股份有限公司 发明人 近藤伊知良
分类号 G11C5/14;G11C14/00 主分类号 G11C5/14
代理机构 代理人 何金涂 台北巿大安区敦化南路二段七十七号八楼
主权项 1. 一种非挥发性半导体记忆元件,包括: 一记忆单元阵列由多种可在其中以电写入资料并 作为记忆 单元之电晶体所构成; 一写入电路根据写入资料输入讯号控制写入负载 到位元线 之连接,所述位元线是由解译位址讯号之列与行解 码器输 出选择讯号到记忆单元阵列之字组与位元线之输 出所指定 ; 一偏压电路藉由降低写入电压电源而输出偏压以 设定所述 记忆单元阵列之单元写入电压; 所述非挥发性半导体记忆元件同时包括: 一场效电晶体(102,302)在闸极接收从所述偏压电路( 118) 之输出并输出所述单元写入电压到与汲极相连的 单元写入 电压线(122); 一导通型场效电晶体(104,304)和所述作为写入负载 之场 效电晶体(102,302)互补,所述场效电晶体(104,304)排列 在所述单元写入电压线与所述记忆单元阵列之位 元线之间 。2. 如申请专利范围第1项之非挥发性半导体记忆 元件,其 中写入负载是由一场效电晶体(104)所构成,其开关 操作 是根据所述行解码器(117)输出讯号与所述写入资 料输入 讯号之逻辑结果(113)所控制。3. 如申请专利范围 第1项之非挥发性半导体记忆元件,其 中写入负载是由两串联场效电晶体所构成,其个别 开关操 作是根据所述行解码器输出讯号与所述写入资料 输入讯号 所控制。4. 如申请专利范围第3项之非挥发性半导 体记忆元件,其 中两场效电晶体之一(304)之开关操作是受写入资 料输入 讯号之输出讯号所控制而另一场效电晶体(326)之 开关操 作是以同样方式受行解码器之输出讯号所控制。5 . 一种非挥发性半导体记忆元件之资料写入方法, 系对 由多种可在其中以电写入资料并作为记忆单元之 电晶体所 构成之记忆单元阵列,包括以下步骤: 输出写入电压; 输出低于写入电压之偏压; 藉由写入资料输入讯号与来自行解码器之行指定 讯号而选 择位元线; 当位元线之选择被设定时,连接受选定所述位元线 到所述 输出偏压讯号。6. 如申请专利范围第5项之非挥发 性半导体记忆元件之资 料写入方法,其中 输出所述写入电压之步骤是输出所述写入电压到N 型场效 电晶体,其汲极连接写入电源电压,其闸极连接写 入电源 电压之半,其源极连接藉由降低写入电源电压而获 得之写 入电压; 输出低于所述写入电源电压之偏压之步骤是输出 藉由降低 写入电源电压而获得之电压; 选择所述位元线之步骤是藉由写入资料输入讯号 与来自所 述行解码器之所述行指定讯号之逻辑结果来选择 所述位元 线;以及 连接所述写入电压到所述受选定位元线之步骤是 输出写入 电压仅当P型场效电晶体其源极连接写入电压且其 汲极连 接位元线,藉由上述位元线被选定之机会而使其闸 极连接 偏压。7. 如申请专利范围第5项之非挥发性半导体 记忆元件之资 料写入方法,其中 输出所述写入电压之步骤是输出所述写入电压到N 型场效 电晶体,其汲极连接写入电源电压,其闸极连接写 入电源 电压之半,其源极连接藉由降低写入电源电压而获 得之写 入电压; 输出低于所述写入电源电压之偏压之步骤是输出 藉由降低 写入电源电压而获得之电压; 选择所述位元线之步骤是从行解码器(317)到所选P 型场效 电晶体(326)之闸极施以位元线选定讯号,其汲极连 接位 元线;以及 连接所述写入电压到所述受选定位元线之步骤是 连接资料 线所选P型场效电晶体(326)之源极到P型写入场效电 晶体( 304)之汲极,所述P型写入场效电晶体(304)之闸极被 施以 偏压,当写入资料输入时,所述P型写入场效电晶体( 304) 之源极被施以单元写入电压。图示简单说明: 图1是表示传统非挥发性半导体记忆元件的电路图 ; 图2是表示图1所示N型写入场效电晶体402的输出特 性图; 图3是表示本发明的非挥发性半导体记忆元件写入 电路周 边的电路图; 图4是表示P型写入电晶体104的输出特性图; 图5是表示本发明的非挥发性半导体记忆元件写入 电路周
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