| 发明名称 |
SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING JIG |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
JPH08313585(A) |
申请公布日期 |
1996.11.29 |
| 申请号 |
JP19950124140 |
申请日期 |
1995.05.24 |
| 申请人 |
OKI ELECTRIC IND CO LTD |
发明人 |
JIN YOSHIHIRO;KAWAMATA NORIHIRO;WATANABE TAKASHI;SAITO KENICHI |
| 分类号 |
G01R31/26;H01L21/66;H01R33/76;(IPC1-7):G01R31/26 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
