DETECTING METHOD FOR DEFECT OF SOLID-STATE IMAGE PICKUP ELEMENT,申请号JP19950121148-传众专利搜索

发明名称	DETECTING METHOD FOR DEFECT OF SOLID-STATE IMAGE PICKUP ELEMENT
摘要
申请公布号	JPH08317292(A)	申请公布日期	1996.11.29
申请号	JP19950121148	申请日期	1995.05.19
申请人	SONY CORP	发明人	UENO CHU
分类号	H04N5/217;H04N5/335;H04N5/367;H04N5/369;H04N5/3728;(IPC1-7):H04N5/335	主分类号	H04N5/217
代理机构		代理人
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