发明名称 PROCESS FOR THE COMPUTER-ASSISTED MEASUREMENT AND TESTING OF ELECTRIC CIRCUITS, ESPECIALLY ELECTRONIC MODULES, AND TESTING STATION FOR IMPLEMENTING THE PROCESS
摘要 <p>Die mit rechnergesteuerten Meß- und Prüfmitteln durchgeführten Meß- und Regelaufgaben beim durch Prüfsoftware gesteuerten Prüfvorgang von elektrischen Schaltungen, insbesondere von elektronischen Baugruppen, werden in einen datenrelevanten Anteil, der Prüfspezifikationsdaten (PS) und Prüfanweisungsdaten (PA) enthält, und einen steuerungsrelevanten Meßgeräte-Treiber-Anteil (TR) aufgetrennt, wobei der datenrelevante Anteil in einem Text-Datenfeld (TD) aufgebaut wird, aus dem dann die steuerungsrelevanten Informationen abgegriffen werden können. Die Erfindung läßt sich bei allen rechnergesteuerten Meß- und Prüfplätzen mit Meß- und Regelaufgaben als modulare produktneutrale Prüfsoftware anwenden.</p>
申请公布号 WO1996037839(A1) 申请公布日期 1996.11.28
申请号 DE1996000906 申请日期 1996.05.23
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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