发明名称 | 地盘构造的测量分析判断方法 | ||
摘要 | 本发明把接受各个振动的垂直成分或者垂直成分与水平成分的振动传感器设置在被测地盘上的比较狭小范围内的3点以上,在各点同时测量微动,必要时改变测定点的位置重复进行,分析所测得的垂直振动数据或者垂直、水平振动数据,判断地盘的层构造及其性质等特性。因而不仅能简便、可靠又准确地进行地盘的层构造及其性质等特性的判断,而且即使在狭小的区域内也能进行地盘构造的测量。 | ||
申请公布号 | CN1033406C | 申请公布日期 | 1996.11.27 |
申请号 | CN91102787.4 | 申请日期 | 1991.04.27 |
申请人 | 时松孝次;薮内贞男 | 发明人 | 时松孝次;桑山晋一 |
分类号 | G01V1/20;G01V1/30 | 主分类号 | G01V1/20 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 杜日新 |
主权项 | 1.一种地盘构造的测量、分析、判断方法,其特征在于,把接受各振动的垂直成分或者垂直成分与水平成分的振动传感器设置在被测地盘上的3点以上,同时测量各点的地盘短周期微动,并改变测定点的位置适当重复进行,从测得的垂直振动数据或者垂直、水平振动数据抽出表面波,并且分析各频率数中的互相关系数、相位差,基于该分析所得到的结果,分析计算出表面波的基本模式,在必要时,同时分析计算高次模式的波长,计算地盘S波速度,来判断地盘的层构造。 | ||
地址 | 日本神奈川县 |