| 发明名称 |
INSPECTION METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND PROBE CARD BEING EMPLOYED IN INSPECTION |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH08306747(A) |
申请公布日期 |
1996.11.22 |
| 申请号 |
JP19950104982 |
申请日期 |
1995.04.28 |
| 申请人 |
MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD |
发明人 |
KOIKE NORIO |
| 分类号 |
G01R31/26;G01R1/073;G01R31/28;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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