发明名称 | 有用以控制滑块降落区结构的结构化测试带的磁记录盘 | ||
摘要 | 一磁记录盘具有一结构化的测试带,其与结构化的降落区径向上分开,同时典型地具有激光产生的突起,突起的平均高度与在结构化降落区上激光产生的突起的平均高度基本不同。在测试带和结构化带两者之上的突起在螺旋形磁道上形成,这是因为形成结构的激光脉冲加工盘时盘同时在转动和径向平动。然而因为结构化带上的突起仅在测试带上的突起的平均高度由第二分析激光测量之后才能形成,这两个螺旋磁道彼此分开且不连续。 | ||
申请公布号 | CN1135631A | 申请公布日期 | 1996.11.13 |
申请号 | CN96100649.8 | 申请日期 | 1996.01.12 |
申请人 | 国际商业机器公司 | 发明人 | T·A·阮 |
分类号 | G11B5/82;G11B5/84 | 主分类号 | G11B5/82 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 王勇;邹光新 |
主权项 | 1.磁记录盘,包括:盘基片;在基片上形成的并具有用作磁记录数据区的环形区的磁记录层;许多在盘基片表面的环形测试带上形成的一般来说相同和对称形状的突起,该测试带与位于磁记录层环形数据区下面的盘基片的区域在径向上分开,突起由和盘基片同样的材料形成并具有高出盘基片表面的平均高度;和许多在盘基片表面的环形结构化带上形成的一般来说相同和对称形状的突起,该结构化带与环形测试带在径向上分开,结构化带上的突起由和盘基片同样的材料形成。 | ||
地址 | 美国纽约 |