测试图像产生器(二)

摘要

本发明于要对一其中每个位元具有一写入致能/失能控制机能的被试验记忆体进行试验时，提供一种对于任何初始值，都易于进行期待值之产生的试验图像产生器。为此，设有一用以根据一来自指令记忆体112之信号，而产生一控制信号的XOR控制器131；并设有一其其中一输入端接受该XOR控制器131之输出信号，而另一输入端则接受一资料产生器B15之输出倒反信号的及闸123；而且设有一其其中一输入端接受该及闸123之输出，而另一输入端则接受一资料产生器A14之输出信号的互斥或闸121，藉此来构成该试验图像产生器。

主权项

1. 一种试验图像产生器,其供试验一被测定元件(3) ,且 会产生一期待値资料,其特征在于包含有: 一XOR控制器(131),其根据一来自指令记忆体(112)之 信 号,而产生一控制信号;以及, 一互斥或闸(121),其接受该XOR控制器(131)之输出信 号 ,并将一资料产生器A(14)所产生之资料信号,与一资 料 产生器B(15)所产生之资料信号,作一互斥或的运算 。2. 一种试验图像产生器,其用以试验一被测定元 件(3), 并产生一期待値资料,其特征在于包含: 一XOR控制器(131),其根据一来自指令记忆体(112)之 信 号,而产生一控制信号; 一及闸(123),其其中一输入端接受该XOR控制器(131) 之 输出信号,而另一输入端则接受一资料产生器B(15) 之输 出倒反信号;以及, 一互斥或闸(121),其其中一输入端接受该及闸(123) 之输 出,而另一输入端则接受一资料产生器A(14)之输出 信号 。图示简单说明: 第1图为一显示本发明之一实施例之试验图像产生 器的方 块图。 第2图为一显示习知一用以试验被测定元件是否良 好之半 导体试验装置的构成例。 第3图为位元数为4时之对半导体记忆体进行写入 的例子。 第4图显示习知试验装置之动作例。