| 发明名称 |
SEMICONDUCTOR MEMORY AND TEST DEVICE AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH08293200(A) |
申请公布日期 |
1996.11.05 |
| 申请号 |
JP19950097249 |
申请日期 |
1995.04.21 |
| 申请人 |
FUJITSU LTD;FUJITSU VLSI LTD |
发明人 |
IWASE AKIHIRO;KOBAYASHI ISAMU |
| 分类号 |
G01R31/28;G11C29/00;G11C29/34;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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