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发明名称 Verfahren und System zum Vergleichen von Punktmustern sowie Bilderkennungsverfahren und -system mit Verwendung desselben
摘要
申请公布号 DE69025693(T2) 申请公布日期 1996.10.31
申请号 DE19906025693T 申请日期 1990.10.11
申请人 HITACHI, LTD., TOKIO/TOKYO, JP 发明人 SAKOU, HIROSHI, SHIKI-SHI, JP;UECKER, DARRIN R., CA 93117, US
分类号 G06F15/18;G06K9/64;G06K9/66;G06N3/00;G06N3/04;G06T1/00;G06T7/00;(IPC1-7):G06K9/66 主分类号 G06F15/18
代理机构 代理人
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