METHOD FOR DETECTING DEFFECTIVE BIT IN MEMORY LSI,申请号JP19950073096-传众专利搜索

发明名称	METHOD FOR DETECTING DEFFECTIVE BIT IN MEMORY LSI
摘要
申请公布号	JPH08273391(A)	申请公布日期	1996.10.18
申请号	JP19950073096	申请日期	1995.03.30
申请人	NEC CORP	发明人	HAMADA HIROYUKI
分类号	G01R31/28;G11C29/00;G11C29/44;G11C29/56;(IPC1-7):G11C29/00	主分类号	G01R31/28
代理机构		代理人
主权项
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