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发明名称 AUTOMATIC TEST CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE
摘要
申请公布号 JPH08273396(A) 申请公布日期 1996.10.18
申请号 JP19950291409 申请日期 1995.11.09
申请人 GENDAI DENSHI SANGYO KK 发明人 SON ZENYOKU;KOU YON
分类号 G11C11/401;G11C29/00;G11C29/14;G11C29/46;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C11/401
代理机构 代理人
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