| 主权项 |
1. 一种音乐IC测试装置,用以测试待测元件,其包括:一电源供应装置,用以供应并切换其内部参考电压及待测元件之电源;一窗型电位比较装置,与上述电源供应装置连接,用以将待测元件输出之电压与上述内部参考电压比较并转换为一逻辑电压电位;一周波数及时间计数比较装置,分别与上述之电源供应装置、窗型电位比较装置连接,该周波数及时间计数比较装置藉产生一控制信号以控制该电源供应装置输出予待测元件之电源状态,同时接收该窗型电位比较装置输出之电压电位,以计数上述待测元件的音调、节拍、及频率,并藉以输出一计数信号値;一波宽感知装置,分别与上述电源供应装置、窗型电位比较装置、周波数及时间计数比较装置连接,用以输出一致能信号,并藉该窗型电位比较装置输出之电压电位来判断待测元件工作的停顿与结束期间,及在该待测元件之工作期间,辨识该周波数及时间计数比较装置之计数信号値以得一测试结果;及一人机介面装置,与上述波宽感知装置连接,用以由该人机介面装置启动波宽感知装置,再依该波宽感知装置之致能信号启动上述电源供应装置和周波数及时间计数比较装置,且该人机介面装置能依上述波宽感知装置之测试结果而显示待测元件的状态。2. 如申请专利范围第1项所述之装置,其中,该电源供应装置包括:一电源,由上述波宽感知装置之致能信号启动,用以产生若干内部参考电压及供应待测元件电源之电压;一电压选择装置,与上述电源连接,用以依该周波数及时间计数比较装置之控制信号,选择上述内部参考电压及供应待测元件电源之电压値大小。3. 如申请专利范围第1项所述之装置,其中,该窗型电位比较装置包括:复数个电位比较器,分别用以将上述内部参考电压与该待测元件输出之电压比较,而得一比较値;及复数个电位转换器,分别与上述电位比较器连接,用以转换该比较値为一逻辑电压电位。4. 如申请专利范围第2项所述之装置,其中,该电压选择装置包括:一组开关,由来自周波数及时间计数比较装置之控制信号决定其开闭;及复数输出回路,与该组开关连接,由该组开关之开闭状态导通该输出回路之一,以决定供应待测元件电源之电压値大小。5. 如申请专利范围第2项所述之装置,其中,上述内部参考电压可选定为一高电压比较准位及一低电压比较准位。6. 如申请专利范围第3项或第5项所述之装置,其中,上述电位比较器之一,系用以比较该高电压比较准位与来自待测元件输出之电压,仅当该待测元件输出之电压大于高电压比较准位,该电位比较器之输出始降为低电位比较値,否则为高电位比较値。7. 如申请专利范围第3项或第5项所述之装置,其中,上述电位比较器之一,系用以比较该低电压比较准位与来自待测元件输出之电压,仅当该待测元件输出之电压小于低电压比较准位,该电位比较器之输出始变为高电位比较値,否则为低电位比较値。8. 如申请专利范围第1项所述之装置,其中,上述周波数及时间计数比较装置包括:一振荡器,用以产生基准时间周期;一时间计数器,由上述致能信号启动,用以依据上述振荡器之基准时间周期而累计工作时间;一波数计数器,由上述致能信号启动,用以依据来自耗电流判断装置之输出电压波形,而计数其周波数;复数记忆器,分别用以预先储存周波数与时间値的期望値;一位址产生器,由上述致能信号作为时序信号,用以产生该记忆器之位址;复数数位比较器,由上述致能信号启动,用以将上述记忆器之周波数及时间値的期望値,分别与来自波数计数器之周波数及来自时间计数器之时间値作比较,并得出两比较値;及一比较器,用以比较上述数位比较器所得之周波数及时间値的比较値,并据以输出一计数信号。9. 如申请专利范围第1项或第8项所述之装置,其中,该控制信号系事先储存于该周波数及时间计数比较装置之记忆器中。10. 一种音乐IC测试装置,用以测试3支脚封装的音乐IC,其包括:一耗电流判断装置,与上述待测元件连接,具有一供应电压之电源,用来执行对该待测元件之耗电流状态的判断,及比较该待测元件之输出以得一电压电位;一周波数及时间计数比较装置,与上述耗电流判断装置连接,藉产生一控制信号以控制该耗电流判断装置输出予待测元件之电源状态,同时,接收该耗电流判断装置输出之电压电位,以计数上述待测元件的音调、节拍、及频率,并藉以输出一计数信号値;一波宽感知装置,分别与上述耗电流判断装置、周波数及时间计数比较装置连接,用以输出一致能信号,并藉该耗电流判断装置输出之电压电位来判断待测元件工作的停顿与结束期间,及在该待测元件之工作期间,辨识该周波数及时间计数比较装置之计数信号値以得一测试结果;及一人机介面装置,与上述波宽感知装置连接,用以由该人机介面装置启动波宽感知装置,再依该波宽感知装置之致能信号启动上述耗电流判断装置和周波数及时间计数比较装置,且该人机介面装置能依上述波宽感知装置之测试结果而显示待测元件的状态。11. 如申请专利范围第10项所述之装置,其中,该耗电流判断装置可由一电源供应装置连接一窗型电位比较装置组成,该电源供应装置,系用来供应并切换其内部参考电压及待测元件之电源,而窗型电位比较装置,则用以将待测元件输出之电压与上述内部参考电压比较以得一电压电位。12. 如申请专利范围第11项所述之装置,其中,该电源供应装置包括:一电源,由上述波宽感知装置之致能信号启动,用以产生若干内部参考电压及供应待测元件电源之电压;一电压选择装置,与上述电源连接,用以依该周波数及时间计数比较装置之控制信号,选择上述内部参考电压及供应待测元件电源之电压値大小。13. 如申请专利范围第11项所述之装置,其中,该窗型电位比较装置包括:复数个电位比较器,分别用以将上述内部参考电压与该待测元件输出之电压比较,而得一比较値;及复数个电位转换器,分别与上述电位比较器连接,用以转换该比较値为一逻辑电压电位。14. 如申请专利范围第12项所述之装置,其中,该电压选择装置包括:一组开关,由来自周波数及时间计数比较装置之控制信号决定其开闭;及复数输出回路,与该组开关连接,由该组开关之开闭状态导通该输出回路之一,以决定供应待测元件电源之电压値大小。15. 如申请专利范围第12项所述之装置,其中,上述内部参考电压可选定为一高电压比较准位及一低电压比较准位。16. 如申请专利范围第13项或第15项所述之装置,其中,上述电位比较器之一,系用以比较该高电压比较准位与来自待测元件输出之电压,仅当该待测元件输出之电压大于高电压比较准位,该电位比较器之输出始降为低电位比较値,否则为高电位比较値。17. 如申请专利范围第13项或第15项所述之装置,其中,上述电位比较器之一,系用以比较该低电压比较准位与来自待测元件输出之电压,仅当该待测元件输出之电压小于低电压比较准位,该电位比较器之输出始变为高电位比较値,否则为低电位比较値。18. 如申请专利范围第10项所述之装置,其中,上述周波数及时间计数比较装置包括:一振荡器,用以产生基准时间周期;一时间计数器,由上述致能信号启动,用以依据上述振荡器之基准时间周期而累计工作时间;一波数计数器,由上述致能信号启动,用以依据来自耗电流判断装置之输出电压波形,而计数其周波数;复数记忆器,分别用以预先储存周波数与时间値的期望値;一位址产生器,由上述致能信号作为时序信号,用以产生该记忆器之位址;复数数位比较器,由上述致能信号启动,用以将上述记忆器之周波数及时间値的期望値,分别与来自波数计数器之周波数及来自时间计数器之时间値作比较,并得出两比较値;及一比较器,用以比较上述数位比较器所得之周波数及时间値的比较値,并据以输出一计数信号。19. 如申请专利范围第10项或第18项所述之装置,其中,该控制信号系事先储存于该周波数及时间计数比较装置之记忆器中。20. 一种音乐IC测试装置,用以测试待测元件,其包括:一耗电流判断装置,与上述待测元件连接,具有一供应电压之电源,用来执行对该待测元件之耗电流状态的判断,及比较该待测元件之输出以得一电压电位;一周波数及时间计数比较装置,与上述耗电流判断装置连接,藉产生一控制信号以控制该耗电流判断装置输出予待测元件之电源状态,同时,接收该耗电流判断装置输出之电压电位,以计数上述待测元件的音调、节拍、及频率,并藉以输出一计数信号値;一波宽感知装置,分别与上述耗电流判断装置、周波数及时间计数比较装置连接,用以输出一致能信号,并藉该耗电流判断装置输出之电压电位来判断待测元件工作的停顿与结束期间,及在该待测元件之工作期间,辨识该周波数及时间计数比较装置之计数信号値以得一测试结果;及一人机介面装置,与上述波宽感知装置连接,用以由该人机介面装置启动波宽感知装置,再依该波宽感知装置之致能信号启动上述耗电流判断装置和周波数及时间计数比较装置,且该人机介面装置能依上述波宽感知装置之测试结果而显示待测元件的状态。21. 如申请专利范围第20项所述之装置,其中,该耗电流判断装置可由一电源供应装置连接一窗型电位比较装置组,该电源供应装置,系用来供应并切换其内部参考电压及待测元件之电源,而窗型电位比较装置,则用以将待测元件输出之电压与上述内部参考电压比较以得一电压电位。22. 如申请专利范围第21项所述之装置,其中,该电源供应装置包括:一电源,由上述波宽感知装置之致能信号启动,用以产生若干内部参考电压及供应待测元件电源之电压;一电压选择装置,与上述电源连接,用以依该周波数及时间计数比较装置之控制信号,选择上述内部参考电压及供应待测元件电源之电压値大小。23. 如申请专利范围第21项所述之装置,其中,该窗型电位比较装置包括:复数个电位比较器,分别用以将上述内部参考电压与该待测元件输出之电压比较,而得一比较値;及复数个电位转换器,分别与上述电位比较器连接,用以转换该比较値为一逻辑电压电位。24. 如申请专利范围第22项所述之装置,其中,该电压选择装置包括:一组开关,由来自周波数及时间计数比较装置之控制信号决定其开闭;及复数输出回路,与该组开关连接,由该组开关之开闭状态导通该输出回路之一,以决定供应待测元件电源之电压値大小。25. 如申请专利范围第22项所述之装置,其中,上述内部参考电压可选定为一高电压比较准位及一低电压比较准位。26. 如申请专利范围第23项或第25项所述之装置,其中,上述电位比较器之一,系用以比较该高电压比较准位与来自待测元件输出之电压,仅当该待测元件输出之电压大于高电压比较准位,该电位比较器之输出始降为低电位比较値,否则为高电位比较値。27. 如申请专利范围第23项或第25项所述之装置,其中,上述电位比较器之一,系用以比较该低电压比较准位与来自待测元件输出之电压,仅当该待测元件输出之电压小于低电压比较准位,该电位比较器之输出始变为高电位比较値,否则为低电位比较値。28. 如申请专利范围第20项所述之装置,其中,上述周波数及时间计数比较装置包括:一振荡器,用以产生基准时间周期;一时间计数器,由上述致能信号启动,用以依据上述振荡器之基准时间周期而累计工作时间;一波数计数器,由上述致能信号启动,用以依据来自耗电流判断装置之输出电压波形,而计数其周波数;复数记忆器,分别用以预先储存周波数与时间値的期望値;一位址产生器,由上述致能信号作为时序信号,用以产生该记忆器之位址;复数数位比较器,由上述致能信号启动,用以将上述记忆器之周波数及时间値的期望値,分别与来自波数计数器之周波数及来自时间计数器之时间値作比较,并得出两比较値;及一比较器,用以比较上述数位比较器所得之周波数又时间値的比较値,并据以输出一计数信号。29. 如申请专利范围第20项或第28项所述之装置,其中,该控制信号系事先储存于该周波数及时间计数比较装置之记忆器中。图示简单说明:第1图系显示本发明之音乐IC测试装置的方块图;第2图系显示第1图之实施例中,由电源供应装置与窗型电位比较装置组合之耗电流判断装置线路图;第3图为第2图之信号脉波图;第4图系显示第1图之实施例的周波数及时间计数比较装置方块图;第5图系显示第4图之实施例中,经处理后之待测元件输出 |
