| 发明名称 |
SURFACE FLAW INSPECTING METHOD AND DEVICE THEREOF |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH08261951(A) |
申请公布日期 |
1996.10.11 |
| 申请号 |
JP19950064015 |
申请日期 |
1995.03.23 |
| 申请人 |
NKK CORP |
发明人 |
SUYAMA TSUNEO;SATO KOI;TAKAGI AKIRA;HORISAWA TERUO |
| 分类号 |
G01B11/30;G01N21/88;G01N21/89;G01N21/892;G01N21/93;(IPC1-7):G01N21/89 |
主分类号 |
G01B11/30 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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