发明名称 METHOD FOR MEASURING SURFACE TEMPERATURE OF SEMICONDUCTOR WAFER SUBSTRATE AND HEAT-TREATING APPARATUS
摘要
申请公布号 KR960013995(B1) 申请公布日期 1996.10.11
申请号 KR19890009928 申请日期 1989.07.12
申请人 TOKYO ELECTRON KK. 发明人 ARIMA, JIRO;TSUJIMURA, HIROJI;NARITA, TOMONORI;TAKEBUCHI, HIROKI
分类号 G01J5/00;G01J5/52;G01J5/60;G01J5/62;H01L21/66;(IPC1-7):G01J5/00 主分类号 G01J5/00
代理机构 代理人
主权项
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