| 发明名称 |
Method for dynamic testing of digital logical circuits |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0469381(B1) |
申请公布日期 |
1996.10.02 |
| 申请号 |
EP19910111879 |
申请日期 |
1991.07.16 |
| 申请人 |
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT |
发明人 |
TRAUB, KARL |
| 分类号 |
G01R31/3183;G01R31/3193;G06F11/22;G06F17/50;(IPC1-7):G06F11/22 |
主分类号 |
G01R31/3183 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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