| 发明名称 | 读出放大器 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种包括读出放大器(例如16)的集成电路，该读出放大器(例如16)用于将2<SUP>n</SUP>个输出特征电平编码成一个具有n个对应位的位模式。该读出放大器(例如16)包括一个非零检测电路，用于当输出特征为零时进行检测。该读出放大器(例如16)还包括2<SUP>n</SUP>-2个比较器(例如20)，用于当输出特征为非零值时将一个输出特征与2<SUP>n</SUP>-2个基准电平进行比较。该2<SUP>n</SUP>-2个基准电平(例如I<SUB>REF1</SUB>、I<SUB>REF2</SUB>)由输出特征的2<SUP>n</SUP>个可能电平中的2<SUP>n</SUP>-2个非零电平构成。 | ||
| 申请公布号 | CN1131800A | 申请公布日期 | 1996.09.25 |
| 申请号 | CN95120890.X | 申请日期 | 1995.12.20 |
| 申请人 | 美国电报电话公司 | 发明人 | 艾伦·L·费希尔 |
| 分类号 | G11C7/00 | 主分类号 | G11C7/00 |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 陆立英 |
| 主权项 | 1.一种包括读出放大器(例如16)的集成电路，该读出放大器(例如16)用于将2n个输出特征电平编码成n个对应的位模式，该读出放大器(例如16)包括用于将一个输出特征与预定基准电平进行比较的比较器和一个用于将输出特征编码成n个预定的位模式之一的编码器，该读出放大器的特征在于：一个非零检测电路，用于在输出特征为零时进行检测，该非零检测电路提供一个输出；2n-2个比较器(例如20)，用于当输出特征为非零值时将将一个输出特征与2n-2个基准电平进行比较，2n-2个基准电平由输出特征的2n个可能电平中的2n-2个非零电平构成，每个比较器(例如20)提供一个输出；一个与非零检测电路及比较器连接的编码器(18)，用于将非零检测电路的输出和比较器的输出编码为n个位模式中对应的一个，该对应的位模式提供从读出放大器的输出，当输出特征由该非零检测电路确定为零时，该位模式输出为预定的缺省位模式。当输出特征为非零值时，该位模式可取由输出是在哪一对基准电平(例如IREF1、IREF2)之间、或输出是大于最大基准电平(例如IREF2)或是小于最小基准电平(例如IREF1)所决定的预定值，因此，为将一个输出特征的2n个电平编码，只需2n-2个基准电平。 | ||
| 地址 | 美国纽约 | ||