| 发明名称 |
INSPECTING METHOD FOR LIMITATION OF NUMBER OF OUTPUT SYNCHRONOUS OPERATIONS IN SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH08240641(A) |
申请公布日期 |
1996.09.17 |
| 申请号 |
JP19950045134 |
申请日期 |
1995.03.06 |
| 申请人 |
NEC ENG LTD |
发明人 |
YAMAGUCHI TOMIICHI;OKAYASU HIDEKI |
| 分类号 |
G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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