发明名称 THICKNESS MEASURING METHOD FOR LIGHT TRANSMISSION MULTILAYER STRUCTURE AND MANUFACTURE OF LIGHT TRANSMISSION MULTILAYER STRUCTURE USING THE SAME
摘要
申请公布号 JPH08233540(A) 申请公布日期 1996.09.13
申请号 JP19950040731 申请日期 1995.02.28
申请人 SONY CORP 发明人 KOIKE FUMIKO;OBA TAKESHI
分类号 G01B11/06;G11B5/84;(IPC1-7):G01B11/06 主分类号 G01B11/06
代理机构 代理人
主权项
地址