发明名称 | 沉积第IIIA族金属薄膜的方法 | ||
摘要 | 一种将高纯度第ⅢA族金属层沉积在基材上的方法,它包括基材与第ⅢA族金属的叔丁基化合物接触,然后使该化合物裂解,在基材上留下沉积的第ⅢA族金属。本发明的方法可用于任何适合的基材,如硅和聚酰亚胺。本发明的方法可用于第ⅢA族金属/硅合金的生长,以及用于使半导体Ⅲ-Ⅴ合金沉积,如AlGaAs、AlInAs和AlSb合金的沉积。 | ||
申请公布号 | CN1130924A | 申请公布日期 | 1996.09.11 |
申请号 | CN94193375.X | 申请日期 | 1994.07.29 |
申请人 | 埃普切公司 | 发明人 | A·C·琼斯 |
分类号 | C23C16/18;C23C16/20;C23C18/08;C23C18/10 | 主分类号 | C23C16/18 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 孙爱 |
主权项 | 1.一种在基材上沉积第IIIA族金属膜的方法,它包括以下步骤:基材与第IIIA族金属前体接触,以及处理前体使之分解,留下沉积在基材上的第IIIA族金属,其中前体是第IIIA族金属的三叔丁基化合物。 | ||
地址 | 英国默西赛德郡 |