发明名称 | 半导体器件的制造方法 | ||
摘要 | 在热处理设备的炉管中,为保持热处理炉管的内部空间处于混合气体的气氛中,包含5至25vol%,最好是20vol%的O<SUB>2</SUB>和95至75vol%,最好是80vol%的N<SUB>2</SUB>的混合气体。然后将半导体片插入炉管中,接着用N<SUB>2</SUB>气清洗炉管的内部空间后引入真空。用低压化学汽相淀积方法形成多晶硅层。内部空间由N<SUB>2</SUB>气清洗,并将半导体片由炉管取出。防止在将半导体片插入炉管中时周围空气的进入,形成均匀厚度的天然氧化层,从而改善h<SUB>FE</SUB>的控制能力。 | ||
申请公布号 | CN1130305A | 申请公布日期 | 1996.09.04 |
申请号 | CN95119925.0 | 申请日期 | 1995.10.14 |
申请人 | 日本电气株式会社 | 发明人 | 广兼宗彦 |
分类号 | H01L21/324;H01L21/316 | 主分类号 | H01L21/324 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 萧掬昌;王忠忠 |
主权项 | 1.一种半导体器件的制造方法,它包括下列步骤:保持热处理室的内部空间在包含75至95vol%N2和5至25vol%O2的混合气氛下;将半导体片在所述混合气氛下插入所述热处理室中;和对热处理室内半导体片进行热处理。 | ||
地址 | 日本东京 |