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发明名称 CONTACT STRUCTURE OF HANDLER FOR IC TESTING DEVICE
摘要
申请公布号 JPH08220189(A) 申请公布日期 1996.08.30
申请号 JP19950049049 申请日期 1995.02.14
申请人 ADVANTEST CORP 发明人 OKUDA HIROSHI
分类号 G01R31/26;B65G11/00;B65G11/02;G01R1/04;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
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