Test circuit for functional testing of electronic circuits
摘要
Prüfschaltung und Prüfverfahren zur Funktionsprüfung von elektronischen Schaltungen (31) mit Ausgängen (1), bei welcher wenigstens zwei Widerstandselemente (21) einen gemeinsamen Schaltungsknoten (3) aufweisen, welcher mit einem Anschluß (2) einer Testeranordnung (32) verbindbar ist und bei der vom Schaltungsknoten (3) abgewandte Anschlüsse (4) der Widerstandselemente (21) mit jeweils einem der Ausgänge (1) verbindbar sind. <IMAGE>
申请公布号
EP0729034(A2)
申请公布日期
1996.08.28
申请号
EP19960101352
申请日期
1996.01.31
申请人
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
发明人
NIKUTTA, WOLFGANG, DIPL.-PHYS.;VON DER ROPP, THOMAS, DR. DIPL.-PHYS.;SCHMOEKEL, HARTMUT, DIPL.-ING.;WALTER, RUDOLPH, DIPL.-ING.;KUCHINKE, GUENTHER, DIPL-ING.
