发明名称 |
LEISTUNGSFREIE SCHALTUNG ZUR UNTERSUCHUNG VON LASERSICHERUNGEN ZUR REDUNDANZ BEIM VLSI-ENTWURF |
摘要 |
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申请公布号 |
AT140543(T) |
申请公布日期 |
1996.08.15 |
申请号 |
AT19910910582T |
申请日期 |
1991.05.16 |
申请人 |
SAMSUNG SEMICONDUCTOR, INC. |
发明人 |
WANG, CHEN, Y. |
分类号 |
G01R31/26;G01R31/07;G01R31/28;H01L21/66;(IPC1-7):G01R15/12;G01R31/00 |
主分类号 |
G01R31/26 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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